11.09.2017: Das Zentrum für Innovationskompetenz ZIK SiLi-nano und Park Systems laden ein: Beyond Imaging – Workshop zur Rasterkraftmikroskop-Technologie (AFM) mit Live-Demo

Da die Nachfrage auf dem Gebiet der Charakterisierung der Strukturen im Nanometerbereich kontinuierlich wächst, entwickelt sich die Rasterkraftmikroskop-Technologie (Atomic Force Microscopy) durch neue Funktionen sowie Leistungssteigerungen immer weiter.

Informationen zur Veranstaltung

IIn diesem Workshop behandeln wir die Anwendung der AFM-Technologie in der Silizium-Photonik und der Photovoltaik.

Die Veranstaltung ist für alle Interessierten offen und beinhaltet Getränke, Snacks sowie ein Mittagessen (anmeldepflichtig).

Zur Anmeldung

Der Workshop beinhaltet

  • wissenschaftlicher Vortrag zu den Fortschritten auf dem Forschungsgebiet „Atomic Force Microscopy“
  • Sondervortrag zu den neusten Entwicklungen in der AFM-Technologie von Dr. Sang-Il Park, CEO Park Systems
  • AFM-Live-Gerätevorführung an dem NX10 Park AFM


Dr. Sang-il Park teilt mit Ihnen seine Zukunftsvision der AFM-Technologie für die Nanometrologie im akademischen und industriellen Umfeld und zeigt die aktuellen technischen Fortschritte aus dem Hause Park Systems.

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Veranstaltungsort und Gastgeber

Fraunhofer CSP
Otto-Eißfeldt-Str. 12
06120 Halle (Saale)


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