Da die Nachfrage auf dem Gebiet der Charakterisierung der Strukturen im Nanometerbereich kontinuierlich wächst, entwickelt sich die Rasterkraftmikroskop-Technologie (Atomic Force Microscopy) durch neue Funktionen sowie Leistungssteigerungen immer weiter.
Informationen zur Veranstaltung
IIn diesem Workshop behandeln wir die Anwendung der AFM-Technologie in der Silizium-Photonik und der Photovoltaik.
Die Veranstaltung ist für alle Interessierten offen und beinhaltet Getränke, Snacks sowie ein Mittagessen (anmeldepflichtig).
Der Workshop beinhaltet
- wissenschaftlicher Vortrag zu den Fortschritten auf dem Forschungsgebiet „Atomic Force Microscopy“
- Sondervortrag zu den neusten Entwicklungen in der AFM-Technologie von Dr. Sang-Il Park, CEO Park Systems
- AFM-Live-Gerätevorführung an dem NX10 Park AFM
Dr. Sang-il Park teilt mit Ihnen seine Zukunftsvision der AFM-Technologie für die Nanometrologie im akademischen und industriellen Umfeld und zeigt die aktuellen technischen Fortschritte aus dem Hause Park Systems.
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Veranstaltungsort und Gastgeber
Fraunhofer CSP
Otto-Eißfeldt-Str. 12
06120 Halle (Saale)