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Optik auf der Nanoebene
19.09.2017Licht besteht aus vielen Frequenzen. Nur ein Teil davon ist für den Menschen sichtbar. Andere...
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Das Zentrum für Innovationskompetenz ZIK SiLi-nano und Park Systems laden ein: Beyond Imaging – Workshop zur Rasterkraftmikroskop-Technologie (AFM) mit Live-Demo
11.09.2017Da die Nachfrage auf dem Gebiet der Charakterisierung der Strukturen im Nanometerbereich...