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NEWS

• Optik auf der Nanoebene

  19.09.2017

  Licht besteht aus vielen Frequenzen. Nur ein Teil davon ist für den Menschen sichtbar. Andere...

• Das Zentrum für Innovationskompetenz ZIK SiLi-nano und Park Systems laden ein: Beyond Imaging – Workshop zur Rasterkraftmikroskop-Technologie (AFM) mit Live-Demo

  11.09.2017

  Da die Nachfrage auf dem Gebiet der Charakterisierung der Strukturen im Nanometerbereich...

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